Temperature measurement in the electronics industry

PI 640i infrared camera from Optris with new microscope optics

24th Januar 2024

Elektronische Komponenten bestehen aus immer kleineren Strukturen und sind sehr kompakt aufgebaut. Optris bringt nun eine neue Mikroskopoptik für die Infrarotkamera PI 640i auf den Markt, um Temperaturen auch bei Strukturen auf Chipebene präzise und mit hoher geometrischer Auflösung zu messen.

Hohe Temperaturen wirken sich negativ auf die Lebensdauer elektronischer Komponenten und Baugruppen aus. Dies liegt an der beschleunigten Alterung vieler Halbleitermaterialien bei hohen Temperaturen. Ursachen können beispielsweise schlechte elektrische Verbindungen durch erhöhten Kontaktwiderstand sein. Aber auch innerhalb komplexer Halbleiterbausteine, etwa von Prozessoren, können erhöhte Temperaturen auftreten.

Temperaturmessungen mit Auflösung im Mikrometerbereich

Mit der neuen MO2X-Mikroskopoptik mit 2-facher Vergrößerung ist die PI 640i Infrarotkamera von Optris nun in der Lage, Infrarotbilder selbst komplexer Strukturen aufzunehmen.

Für eine exakte Temperaturmessung werden 4×4 Pixel (MFOV) benötigt, sodass nun Objekte mit einer Größe von nur 34 µm gemessen werden können. Damit lassen sich selbst winzige Strukturen auf Chipebene analysieren. Die thermische Auflösung von 80 mK ist für diese Optik ein hervorragender Wert. Der Fokus der neuen Optik ermöglicht das Arbeiten aus einer Distanz von nur 15 mm zum Messobjekt.

Da die Optiken der PI-Serie leicht austauschbar sind, kann das System flexibel für verschiedene Messaufgaben eingesetzt werden. Zusammen mit dem hochwertigen Mikroskopstativ mit Feineinstellung, das im Lieferumfang enthalten ist, lassen sich mikroelektronische Baugruppen besonders einfach inspizieren. Die maximale Auflösung der Infrarotkamera beträgt 640 × 480 Pixel bei einer Bildfrequenz von 32 Hz, und selbst bei 125 Hz überzeugt die PI 640i noch mit 640 × 120 Pixeln.