Präzise Infrarotbildgebung zur Fehlererkennung bei Leiterplatten

Hochleistungs-PI 640i mit Dualoptik oder kostengünstige Optris Xi 400 IR-Kamera

Die steigende Nachfrage nach kleineren, effizienteren und zuverlässigeren elektronischen Komponenten und Systemen erfordert thermische Inspektionswerkzeuge, die kritische Entscheidungen während des gesamten Produktentwicklungszyklus unterstützen. Da die Elektronikindustrie den Fokus auf Größenreduktion und geringeren Energieverbrauch legt, sind Infrarotkameras mit mittlerer räumlicher Auflösung entscheidend, um Fehler in kleinen Geräten und Verbindungen zu erkennen.

Für eine effektive Fehlererkennung wird eine Kamera mit mittlerer Auflösung (320 x 240 oder besser) und einer Pixelanzahl von mindestens 75.000 Elementen als Einstiegslösung empfohlen. In der Optris-Produktlinie wird die Xi400, erhältlich in mehreren Optikvarianten, häufig zur Fehlererkennung auf Leiterplatten eingesetzt. Die Auswahl einer Kamera mit der passenden Optik und Messfeldauflösung (MFOV) ist entscheidend für eine präzise Zielmessung.

Die Fähigkeit, Temperaturanstiege auf sehr kleinen Zielen mit einer Infrarotkamera zu erkennen, hängt von der Größe und Anzahl der Pixel ab, die die Kamera auf das kleine Ziel fokussieren kann. Wenn das Ziel kleiner als ein einzelnes Pixel ist, wird der Temperaturanstieg durch die kühleren Umgebungstemperaturen abgeschwächt, was die Fehlerlokalisierung erschwert und zu ungenauen Temperaturmessungen führt. Die IR-Kameraoptik ist ebenso wichtig, wenn kleine Temperaturerhöhungen an elektronischen Bauteilen erkannt werden sollen – hohe Pixelzahlen sind nutzlos, wenn die Pixel nicht auf eine kleine Fläche fokussiert werden können.

Das optimale Infrarotkamerasystem zur Fehlererkennung in verschiedenen Elektronikanwendungen umfasst eine hochauflösende Infrarotkamera (640 x 480) und mindestens zwei Optiken für schnelle Infrarotscans auf großen Platinen sowie detaillierte Untersuchungen von Fehlern auf kleinen Bauteilen. Hochauflösende Wärmebildkameras mit umschaltbaren kalibrierten Optiken und Mikroskopoptionen sind die beste Wahl für die Fehlererkennung auf Leiterplatten.