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Optris IR Anwendungs-Banner Solar Identifizierung schwacher Shunts

Identifizierung schwacher Shunts bei der Herstellung von Solarzellen mit Infrarotkameras

Beleuchtete Lock-in-Thermografie zum Erkennen und Beseitigen von Shunts in Solarzellen

Herausforderung

Shunts in Silizium-Solarzellen, verursacht durch Prozessfehler oder Materialunregelmäßigkeiten, erzeugen lokale Wärme und reduzieren den Wirkungsgrad. Diese Fehler sind oft unsichtbar und mit herkömmlicher stationärer Thermografie schwer zu detektieren, was ihre zuverlässige Identifikation in Produktionslinien zu einer dauerhaften Herausforderung macht.

Lösung

Durch den Einsatz beleuchteter Lock-in-Thermografie werden thermische Reaktionen von Shunt-Bereichen durch die Analyse des dynamischen Heizverhaltens unter periodischer Lichtanregung von intakten Regionen getrennt. Diese Methode ermöglicht eine hochsensitive Detektion schwacher und sonst unentdeckbarer Defekte unter realen Produktionsbedingungen.

Vorteile

  • Erkennt selbst schwache Shunts, die stationäre Thermografie oft nicht sichtbar machen kann
  • Steigert den Wirkungsgrad von Solarzellen, indem fehlerhafte Einheiten nicht in Module gelangen
  • Reduziert langfristige Moduldegradation durch frühzeitige Fehlererkennung
  • Unterstützt datengestützte Qualitätskontrolle mittels dynamischer thermischer Auswertung
  • Ermöglicht kosteneffizientes Defekt-Screening für Produktionslinien in großem Maßstab

Effizienzsteigerung durch das Erkennen und Eliminieren von Shunts in Silizium-Solarzellen

Silizium-Solarzellen funktionieren nach dem gleichen Prinzip wie Fotodioden. Sie bestehen üblicherweise aus miteinander verbundenen p-dotierten und n-dotierten Wafern geringer Dicke. Der resultierende p-n-Übergang wird auf der n-Seite durch eine Siliziumnitridschicht abgedeckt, die als Antireflexbeschichtung dient. Die Kontakte zur Stromabnahme werden durch ein Gitter aus Silberleitern auf der Vorderseite und einen vollflächigen Aluminiumkontakt auf der Rückseite hergestellt. Um prozessbedingte Kurzschlüsse in Solarzellen zu vermeiden, müssen ihre Kanten mithilfe eines Lasers oder durch chemisches Ätzen isoliert werden.

Jegliche Störung des p-n-Übergangs durch Risse und Kratzer, die während der Verarbeitung der Solarzelle entstehen, sowie Schäden am Rand können Fehler hervorrufen. Viele dieser Defekte führen zu unerwünschtem Leckstrom. Diese Arten von Fehlern werden als prozessinduzierte Shunts bezeichnet. Multikristallines Silizium kann zudem Präzipitate enthalten, die Kurzschlüsse in Solarzellen verursachen – sogenannte materialinduzierte Shunts. Shunts in Solarzellen sind Bereiche mit erhöhtem Dunkelstrom, der den Wirkungsgrad der Zelle deutlich reduzieren kann. Alle Arten von Shunts, unabhängig von ihrer Ursache, wirken sich schädlich auf die Effizienz von Solarzellen aus und sollten unbedingt vermieden werden.

Shunts sind oft nicht sichtbar, dennoch müssen Hersteller diese finden und beseitigen, um die Effizienz der Zellen zu verbessern. Zusätzlich verursachen Shunts lokale Erwärmungen, sogenannte Hotspots, die langfristig die gesamte Solarzelle oder sogar das gesamte Modul beschädigen können. Dies kann zu vorzeitiger Degradation oder zum Ausfall des Solarmoduls führen. Die Identifizierung und Beseitigung von Shunts sowie die Lieferung shuntfreier Solarzellen sind entscheidend für Reputation und Wettbewerbsfähigkeit.

Shunts erzeugen lokale Bereiche mit erhöhtem Stromfluss, der wiederum lokale Wärme erzeugt. Je nach Größe des Shunts entstehen thermische Hotspots von einigen mK bis zu mehreren Kelvin im Vergleich zum Umfeld. Da das Rauschlimit herkömmlicher Infrarotkameras realistisch zwischen 40 und 100 mK liegt, können relativ starke lokale Wärmequellen detektiert werden – ausreichend, um stärkere Shunts sichtbar zu machen.

Dennoch können kleine Fehler in Solarzellen mit konventioneller stationärer Thermografie unsichtbar bleiben. Zudem können lokale Wärmequellen aufgrund der lateralen Wärmeleitung in der Solarzelle in der stationären Thermografie verschwommen erscheinen.

Die Rolle der berührungslosen IR-Temperaturmessung für die Solarindustrie
Dynamische Shunt-Bildgebung in Solarzellen mit beleuchteten Lock-in-Techniken

Dynamische Shunt-Bildgebung in Solarzellen mit beleuchteten Lock-in-Techniken

Für die Abbildung sehr schwacher Shunts in Solarzellen müssen beleuchtete Lock-in-Techniken (ILIT) eingesetzt werden. Die beleuchtete Lock-in-Thermografie ist ein zerstörungsfreies Charakterisierungsverfahren, das schnell genug für Produktionslinien von Solarzellen ist.

Der Grundgedanke ist die Analyse des dynamischen, zeitabhängigen thermischen Verhaltens der Shunts. Shunts besitzen andere thermische Materialeigenschaften und verhalten sich daher thermisch anders als andere Bereiche des Solarzellenübergangs. Wenn die eingestrahlte Energiewelle die Oberfläche des Objekts durchdringt, wird sie absorbiert und erfährt eine Phasenverschiebung. Trifft sie auf Bereiche mit abweichenden thermophysikalischen Eigenschaften, wird ein Teil der Welle reflektiert. Diese reflektierte Welle interferiert mit der einfallenden Welle an der Oberfläche und erzeugt ein Interferenzmuster in der lokalen Oberflächentemperatur, das mit der gleichen Frequenz wie die thermische Welle oszilliert. Daher wird eine periodische Anregung mit fester Frequenz auf die Solarzelle angewendet und ihr zeitabhängiges thermisches Verhalten über mehrere Zyklen beobachtet. Shunts reagieren auf diese thermische Anregung mit unterschiedlichen Amplituden- und Phasenantworten im Vergleich zu intakten Bereichen.

Während der Lichtpuls einer Sprungfunktion entspricht, bei der die Beleuchtungsintensität wiederholt steigt und fällt und so Wärme mit dieser Frequenzkomponente einbringt, überwacht eine Wärmebildkamera die aus der Solarzelle austretende Wärme. Als Qualitätstest beinhaltet die Solarzellen-Flash-ILIT die Anwendung von Hochintensitätslicht. Während eines Flashtests wird das PV-Modul einem kurzen, intensiven Lichtblitz aus einer xenongefüllten Bogenlampe, Metallhalogenlampen oder LEDs ausgesetzt. Das Lichtspektrum solcher Lampen sollte dem Sonnenspektrum möglichst nahekommen.

Die Blitzlampe erzeugt eine kontinuierliche spektrale Leistungsverteilung mit einer Farbtemperatur von etwa 5500 K bis 6200 K und deckt einen Wellenlängenbereich von 200 nm bis 1200 nm ab. Die Temperatur der Solarzelle während des Tests liegt typischerweise in der Nähe der Raumtemperatur, wobei die optimale Temperatur für Solarmodule etwa 25 °C beträgt. Der Einsatz einer kurzwellig empfindlichen Infrarotkamera im gleichen Spektralbereich wie die Lichtemission ist aufgrund potenzieller Übersprechen-Probleme und des relativ niedrigen Temperaturbereichs nicht sinnvoll. Daher ist eine herkömmliche Infrarotkamera mit langwelligem (LW/LT) Bereich die optimale Wahl.

Die Lichtpulse werden mit der Lock-in-Frequenz erzeugt, die den Leuchtsimulator triggert. Die Lock-in-Frequenz hängt von der Bildfrequenz der Infrarotkamera ab. Die maximal nutzbare Lock-in-Frequenz beträgt aufgrund des Shannon-Nyquist-Abtasttheorems und der zweiphasigen Korrelation zwischen Eingangssignal, thermischer Anregung und thermischer Antwort ein Viertel der IR-Kamera-Bildfrequenz. Bei einer ungekühlten IR-Kamera begrenzt die thermische Zeitkonstante des Bolometers (8–15 ms) die physikalisch relevante Abtastfrequenz auf etwa 125 Hz. Daher ist eine Lock-in-Frequenz von unter 30 Hz oder Belichtungszeiten von 30 bis 50 ms möglich. Dennoch können IR-Kameras nicht direkt mit dem Lock-in-Prozess synchronisiert werden, aber der Lichtpuls-Trigger kann einfach vom IR-Kamera-Frame-Trigger abgeleitet werden.

Nach der Aufnahme zeigt ein Stapel von Thermografiebildern die Aufheiz- und Abkühlphasen mit hoher Synchronisation zur Anregung. Aus der Zeitreihe jedes Pixels wird der zeitliche Verlauf extrahiert und mit dem Eingangssignal korreliert. Verschiedene mathematische Verfahren können zur Auswertung der Übertragungsfunktion genutzt werden. Häufig werden die Leistungsdichtespektren zur Quantifizierung der Heizamplituden sowie Kreuzkorrelationen zur Ermittlung der Phasenverschiebung eingesetzt.

Die Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnisses kann durch mehr Iterationen, höhere Anregungsenergie oder den Einsatz von IR-Kameras mit geringerem thermischem Rauschen erreicht werden.

Verwendung der Optris Xi400 zur Solarzellenanalyse mit Lock-in-Thermografie

Die beleuchtete Lock-in-Thermografie ist ein hochsensitives Werkzeug zur Analyse von Solarzellen und bietet detaillierte Einblicke in lokale Effizienz und Fehlermoden. Ihre Fähigkeit, schwache Wärmequellen zu detektieren und quantitative Auswertungen durchzuführen, macht sie unverzichtbar zur Verbesserung von Solarzellen, indem selbst sehr schwache Shunts lokalisiert werden.

Abhängig von Schweregrad und Art des Shunts versuchen Hersteller unter Umständen, die betroffene Zelle zu reparieren. Dies kann laserbasierte Techniken zur Isolation des geschädigten Bereichs oder eine erneute Prozessierung umfassen, wenn der Fehler oberflächenbedingt ist. Wenn ein Shunt nicht effektiv repariert werden kann, wird die defekte Zelle aus der Produktionslinie entfernt, um ihre Integration in ein Modul zu verhindern.

Optris liefert keine Auswertesoftware für den Lock-in-Algorithmus, da jeder Produktionsprozess einzigartig ist. Die Daten müssen mit gesunden Zellen verglichen und interpretiert werden. Ein Lock-in-Algorithmus identifiziert im Wesentlichen Materialunterschiede, quantifiziert jedoch keinen Shunt. Üblicherweise muss der Algorithmus iterativ optimiert werden, um die bestmöglichen Materialeinsichten zu gewinnen.

Gekühlte Infrarotkameras mit geringerem thermischen Rauschen und höherer Bildfrequenz können schärfere Lock-in-Bilder liefern – jedoch zu deutlich höheren Kosten. Dennoch erweist sich die eingesetzte Xi400-Infrarotkamera als vollkommen ausreichend, wobei das Preis-Leistungs-Verhältnis für Testanlagen in der Massenproduktion entscheidend ist.

Die Optris Xi400 Infrarotkamera mit ihrer hohen Bildfrequenz von 80 Hz und der Möglichkeit, die Blitzlampen des Sonnensimulators zu triggern, war für diese Anwendung besonders wichtig. Zudem ermöglichen ihr umfangreiches SDK sowie die Verbindung zu Matlab oder Python Ingenieuren einen einfachen Zugriff auf Thermografiebilder und deren Weiterverarbeitung.

Einsatz des Optris Xi 400 für die Solarzellenanalyse mit Lock-in-Thermografie

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