PI 640i Mikroskop-Zubehörset

Das Optris-Mikroskopobjektiv ist ein Zubehör für Anwender, die eine PI 640i-Infrarotkamera zusammen mit einem weiteren austauschbaren Objektiv besitzen. Dieses Mikroskopobjektiv erweitert die Möglichkeiten der PI 640i für die thermische Analyse kompletter Leiterplatten sowie detaillierter Makroaufnahmen einzelner Bauteile. Dank seiner hohen thermischen und geometrischen Auflösung ermöglicht es eine präzise und zuverlässige Funktionsprüfung elektronischer Produkte.

Allgemeine Spezifikationen

• Betriebstemperaturbereich: 0…50°C
• Lagertemperaturbereich: -40…70 °C
• Relative Luftfeuchtigkeit: 20 – 80 %, nicht kondensierend
• Abmessungen: 300 x 220 x 150 mm

Optische Spezifikationen

• Sichtfeld (FOV): 12° x 9°
• Brennweite: 44 mm
• F-Nummer: 1.1
• Optische Auflösung: 940:1
• Mindestabstand zum Messobjekt: 80 – 100 mm
• Austauschbare Optiken: Ja

Messspezifikationen

• Objekt-Temperaturmessbereich: -20…100°C, 0…250°C, 150…900°C
• Genauigkeit: ±2 °C oder ±2 %, je nachdem, welcher Wert größer ist
• Thermische Empfindlichkeit (NETD): 80 mK
• Kleinste detektierbare Spotgröße IFOV (1 Pixel): 28 µm
• Kleinste messbare Spotgröße MFOV: 85 µm
• Messfeld (MFOV): 3 x 3 Pixel

Kann ich Objektive mit einem größeren Sichtfeld anstelle eines Mikroskopobjektivs für größere Messobjekte wie Leiterplatten verwenden?

Ja. Für die PI 640i sind vier weitere Objektive erhältlich, die für den Einsatz mit der Kamera kalibriert werden können. Dadurch erweitert sich das Anwendungsspektrum der PI 640i erheblich und ermöglicht die Wärmebildaufnahme sowie Temperaturmessung kompletter Leiterplatten oder der Geräte, in denen diese verbaut sind. Wie bei den Mikroskopobjektiven muss beim Objektivwechsel die richtige Kalibrierdatei ausgewählt werden.

Warum benötige ich einen Mikroskoptisch?

Die Grobfokussierung kann über den gerändelten Ring am Mikroskopobjektiv erfolgen. Kleine Änderungen des Arbeitsabstands können jedoch die Bildschärfe und die Genauigkeit der Temperaturmessung deutlich verbessern. Die Mikroskoptische der jeweiligen Mikroskop-Kits ermöglichen diese präzise Einstellung des Arbeitsabstands. Ist das Bild nicht optimal fokussiert, sind auch die Temperaturmessungen nicht exakt.

Kann ich die Temperatur der Anschlussdrähte kleiner elektronischer Bauteile messen?

Kleine Anschlussdrähte können mit leistungsstarken Infrarot-Mikroskopobjektiven sichtbar gemacht werden. Sie bestehen jedoch meist aus Metallen mit geringer Emissivität, die Wärmestrahlung stark reflektieren. Für eine präzise Temperaturmessung müssen die Anschlussdrähte mit Ruß oder matter schwarzer Farbe beschichtet werden. Dasselbe gilt für metallische Gehäuse von Bauteilen. Ist eine Beschichtung nicht möglich, kann häufig die Verbindung des Anschlussdrahtes mit dem Bauteil aufgrund ihrer höheren Emissivität als Indikator dienen, um zu erkennen, ob der betreffende Anschluss heißer wird als vorgesehen.

Kann ich durch die Schichten einer Leiterplatte hindurchsehen?

FR-4 und Teflon (PTFE) sind gängige Materialien für Trägerschichten von Leiterplatten. Sie sind im Infrarotbereich nicht durchlässig und können daher mit einer IR-Kamera nicht durchleuchtet werden. Wärme aus bestimmten Bereichen kann jedoch durch die verschiedenen Leiterplattenschichten bis zur Oberfläche geleitet werden und dort von einer auf diesen Bereich gerichteten Infrarotkamera erfasst werden. Gegebenenfalls müssen die Kameraeinstellungen optimiert werden, um die Empfindlichkeit zu erhöhen und kleine Kurzschlüsse in inneren Leiterplattenschichten sichtbar zu machen. Zwischen den Leiterplattenschichten eingebrachte Kupferfolien können den Wärmetransport zur Oberfläche reduzieren oder vollständig verhindern.

Kann eine Infrarotkamera Chip- und Substrattemperaturen während der Leiterplattenfertigung überwachen?

Jede Infrarotmessung setzt eine freie Sichtlinie zwischen Kameraoptik und Messobjekt voraus. Temperaturmessungen in einem Reflow-Ofen sind ohne geeignete Sichtöffnung sowie entsprechende Montage- und Kühlvorrichtungen nicht möglich. Obwohl derzeit kein entsprechendes System kommerziell angeboten wird, befindet sich ein SMT-Reflow-System mit Zwangskonvektion in Entwicklung, das Optris-Infrarotkameras im Line-Scan-Modus verwendet, um Temperaturen zu messen und an vier Positionen durch schmale Öffnungen im Ofen vollständige Wärmebilder zu erzeugen.

Kann ich das Mikroskopobjektiv nachträglich zu meiner Infrarotkamera hinzufügen?

Ja. Wird das Mikroskop-Zubehörset nachträglich bestellt, muss die Kamera zur Kalibrierung an Optris eingesendet werden.

• Mikroskopoptik
• USB-Kabel (1 m)
• Kabel für Ein-/Ausgänge (1 m) inkl. Klemmenblock
• Robuster Transportkoffer (IP67)
• Mikroskopständer
• Grundplatte mit ESD-Pad
• Softwarepaket Optris PIX Connect
• Schnellstartanleitung