Technische Daten der optris Xi 400

• Umfang der Lieferung:
  Prozess-Imager Xi 400
  USB-Kabel (1 m)
  Standard-PIF-Kabel (1 m) inkl. Klemmleiste
  Befestigungswinkel mit Mutter
  Softwarepaket optris PIX Connect
• Detektor: FPA, ungekühlt (17 µm Abstand)
• Optische Auflösung: 382 x 288 Pixel
• Spektralbereich: 8 – 14 µm
• Temperaturbereich (skalierbar über die Programmiertaste oder die mitgelieferte Software):
  –20 °C … 100 °C
  0 °C … 250 °C
  (20) 150 °C … 900 °C ¹⁾
• Bildfrequenz: 80 Hz / 27 Hz
• Mikroskop-Optik:
  18° x 14° (f = 20 mm)
• Kleinster Messfleck (FOV): 81 µm @ 90 mm
• Unmittelbares Sichtfeld (IFOV): 80 µm
• MFOV: 240 µm @ 90 mm
• Fokus: Manueller Motorfokus
• Verhältnis von Entfernung zu Sehfeld: 390:1 (18°-Optik)
• Thermische Empfindlichkeit (NETD): 80 mK @ 27 Hz
• Systemgenauigkeit (bei einer Umgebungstemperatur von 23 ± 5 °C): ±2 °C oder ±2 %, je nachdem, welcher Wert größer ist
• PC-Schnittstelle: USB 2.0 / optionale Umwandlung von USB in GigE (PoE)
• Prozess-Schnittstelle (PIF):
  Standard-PIF:
  0-10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 0-10 V Ausgang
  Industrie-PIF:
  2 x 0-10 V Eingänge, digitaler Eingang (max. 24 V), 3 x 0-10 V Ausgänge,
  3 x Relais (0-30 V / 400 mA), defektsicheres Relais
• Kabellänge (USB): 1 m (Standard), 3 m, 5 m, 10 m, 20 m
• Umgebungstemperatur (T_Amb): 0 °C…50 °C
• Relative Luftfeuchtigkeit: 10 – 95 %, nicht kondensierend
• Gehäuse (Größe / Leistung):Ø 36 mm x 100 mm (M30x1 Gewinde) / IP 67 (NEMA 4)
• Gewicht (ohne Montagebügel): 216 – 220 g (je nach Objektiv)
• Schock ²⁾: IEC 60068-2-27 (25 G und 50 G)
• Vibration ²⁾:
  – IEC 60068-2-6 (sinusförmig)
  – IEC 60068-2-64 (breitbandiges Rauschen)
• Stativhalterung: 1/4-20 UNC
• Stromversorgung: Stromversorgung über USB

¹⁾ Genauigkeitsangabe gültig ab 150 °C
²⁾ Für weitere Details siehe Betriebsanleitung

Anwendungsbereiche für die optris Xi 400 Mikroskop-Optik

Leiterplatten sind ein wesentlicher Bestandteil elektronischer Geräte. Sie werden immer kleiner und müssen gleichzeitig immer leistungsfähiger sein. Mit der Mikroskopoptik der optris Xi 400 Wärmebildkamera können Temperaturen von bestückten Leiterplatten einfach gemessen werden, um überhitzte Bereiche schnell zu erkennen und mögliche Defekte zu vermeiden.
Die Ursachen für zu hohe Temperaturen können vielfältig sein: defekte Bauteile, falsch dimensionierte Leiterbahnen oder schlecht ausgeführte Lötstellen.

[download id=”26282″]

[download id=”26277″]

Inklusive Thermografie-Software optris PIX Connect

Alle IR-Kameras werden mit der Thermografie-Software optris PIX Connect ausgeliefert, die speziell für die umfangreiche Dokumentation und Analyse von Wärmebildern entwickelt wurde. Es ermöglicht Ihnen die Analyse von Temperaturdaten in Echtzeit sowie die Fernsteuerung Ihrer Infrarotkamera. Darüber hinaus können Sie individuelle Alarmstufen für Ihren Prozess einrichten und optische oder akustische Alarmsignale definieren.

Unsere Thermografie-Software ist lizenzfrei und kann leicht an Ihre Anforderungen angepasst werden.

Alle optris-Infrarotkameras sind kompatibel mit der Datenerfassungssoftware Dewesoft X von