PI 640i Mikroskop MO2X Kit

Das Mikroskopobjektiv-Kit ist ein Zubehör für die PI 640i-Infrarotkamera und eignet sich besonders für Anwender, die bereits eine PI 640i mit weiteren austauschbaren Objektiven besitzen. Das Kit bietet eine 2-fache Vergrößerung und liefert präzise Temperaturdaten von kleinen elektronischen Bauteilen und MEMS, wodurch es sich besonders für Halbleiteranwendungen eignet. Es ermöglicht die Darstellung kleinster thermischer Veränderungen und die Temperaturmessung winziger Messobjekte unter optimaler Ausnutzung der Detektorauflösung der Kamera. Das Objektiv fokussiert die Infrarotstrahlung auf die Detektorelemente der IR-Kamera und ermöglicht so die Erfassung von Temperaturänderungen an extrem kleinen Strukturen bis zu einer Größe von 8 µm innerhalb eines Sichtfeldes von 5,4 mm × 4,0 mm. Die Kombination aus hochauflösender Infrarotkamera, in Deutschland entwickelter Optik und präziser Justierung gewährleistet exakte Messergebnisse. Mit einem kleinen MFOV von 4 × 4 Pixeln wird eine besonders hohe Messgenauigkeit erreicht.

Allgemeine Spezifikationen

• Betriebstemperaturbereich: 0…50 °C
• Lagertemperaturbereich: -40…70 °C
• Relative Luftfeuchtigkeit: 20–80 %, nicht kondensierend
• Abmessungen: 410 x 230 x 420 mm

Optische Spezifikationen

• Sichtfeld: 10° x 8°
• Brennweite: 60 mm
• F-Nummer: 1,3
• Optische Auflösung: 440:1
• Abstand zum Messobjekt: 15 mm
• Austauschbare Optiken: Ja

Messspezifikationen

• Messbereich des Objekts: -20…100 °C, 0…250 °C, 150…500 °C
• Genauigkeit: ±2 °C oder ±2 %, je nachdem, welcher Wert größer ist
• Thermische Empfindlichkeit (NETD): 80 mK
• Kleinste detektierbare Spotgröße IFOV (1 Pixel): 8 µm
• Kleinste messbare Spotgröße MFOV: 32 µm
• Messfeld (MFOV): 4 x 4 Pixel

Kann ich zwischen den Objektiven MO2X und MO44 wechseln?

Ja. Die Objektive können direkt vor Ort gewechselt werden und liefern kalibrierte Temperaturmessungen, sofern beide Objektive mit derselben PI 640i kalibriert wurden. Für die korrekte Kalibrierung muss im Reiter „Gerät“ des Konfigurationsmenüs im Auswahlfeld „Objektiv“ das aktuell montierte Objektiv ausgewählt werden. Sind alle mit der Seriennummer Ihrer Kamera kalibrierten Objektive verfügbar und der PC mit PIX Connect mit dem Internet verbunden, werden diese dort automatisch angezeigt.

Kann ich Objektive mit einem größeren Sichtfeld anstelle eines Mikroskopobjektivs für größere Messobjekte wie Leiterplatten verwenden?

Ja. Für die PI 640i sind vier weitere Objektive erhältlich, die für den Einsatz mit der Kamera kalibriert werden können. Dadurch erweitert sich das Anwendungsspektrum der PI 640i erheblich und ermöglicht die Wärmebildaufnahme sowie Temperaturmessung kompletter Leiterplatten oder der Geräte, in denen diese verbaut sind. Achten Sie beim Wechsel des Objektivs darauf, die passende Kalibrierdatei auszuwählen.

Ich besitze bereits Mikroskopobjektive. Kann ich diese verwenden?

Mikroskopobjektive für Kameras im sichtbaren Spektralbereich übertragen die Infrarotstrahlung im Wellenlängenbereich der PI 640i nicht und können daher nicht mit einer Infrarotkamera verwendet werden. Infrarotobjektive, die nicht speziell mit der PI 640i kalibriert wurden, können zwar vergrößerte Wärmebilder erzeugen, liefern jedoch keine kalibrierten Temperaturmessungen.

Warum benötige ich einen Mikroskoptisch?

Die Grobfokussierung kann über den gerändelten Ring am Mikroskopobjektiv erfolgen. Kleine Änderungen des Arbeitsabstands können jedoch die Bildschärfe und die Genauigkeit der Temperaturmessung deutlich verbessern. Die Mikroskoptische der jeweiligen Mikroskop-Kits ermöglichen diese präzise Einstellung des Arbeitsabstands. Ist das Bild nicht optimal fokussiert, sind auch die Temperaturmessungen nicht exakt.

Kann ich die Temperatur der Anschlussdrähte kleiner elektronischer Bauteile messen?

Kleine Anschlussdrähte können mit leistungsstarken Infrarot-Mikroskopobjektiven sichtbar gemacht werden. Sie bestehen jedoch meist aus Metallen mit geringer Emissivität, die Wärmestrahlung stark reflektieren. Für eine präzise Temperaturmessung müssen die Anschlussdrähte mit Ruß oder matter schwarzer Farbe beschichtet werden. Dasselbe gilt für metallische Gehäuse von Bauteilen. Ist eine Beschichtung nicht möglich, kann häufig die Verbindung des Anschlussdrahtes mit dem Bauteil aufgrund ihrer höheren Emissivität als Indikator dienen, um zu erkennen, ob der betreffende Anschluss heißer wird als vorgesehen.

Kann ich durch die Schichten einer Leiterplatte hindurchsehen?

FR-4 und Teflon (PTFE) sind gängige Materialien für Trägerschichten von Leiterplatten. Sie sind im Infrarotbereich nicht durchlässig und können daher mit einer IR-Kamera nicht durchleuchtet werden. Wärme aus bestimmten Bereichen kann jedoch durch die verschiedenen Leiterplattenschichten bis zur Oberfläche geleitet werden und dort von einer auf diesen Bereich gerichteten Infrarotkamera erfasst werden. Gegebenenfalls müssen die Kameraeinstellungen optimiert werden, um die Empfindlichkeit zu erhöhen und kleine Kurzschlüsse in inneren Leiterplattenschichten sichtbar zu machen. Zwischen den Leiterplattenschichten eingebrachte Kupferfolien können den Wärmetransport zur Oberfläche reduzieren oder vollständig verhindern.

Kann eine Infrarotkamera Chip- und Substrattemperaturen während der Leiterplattenfertigung überwachen?

Jede Infrarotmessung setzt eine freie Sichtlinie zwischen Kameraoptik und Messobjekt voraus. Temperaturmessungen in einem Reflow-Ofen sind ohne geeignete Sichtöffnung sowie entsprechende Montage- und Kühlvorrichtungen nicht möglich. Obwohl derzeit kein entsprechendes System kommerziell angeboten wird, befindet sich ein SMT-Reflow-System mit Zwangskonvektion in Entwicklung, das Optris-Infrarotkameras im Line-Scan-Modus verwendet, um Temperaturen zu messen und an vier Positionen durch schmale Öffnungen im Ofen vollständige Wärmebilder zu erzeugen.Die Thermografie-Software optris PIX Connect ist im Lieferumfang enthalten und lizenzfrei. Alle Infrarotkameras werden mit der Thermografie-Software optris PIX Connect ausgeliefert, die speziell für die umfangreiche Dokumentation und Analyse von Wärmebildern entwickelt wurde. Die Windows-basierte PIX Connect Software ermöglicht es Anwendern, die Infrarotkameras an spezifische Anforderungen anzupassen. Sie analysiert Live- und aufgezeichnete Temperaturdaten und löst Alarmsignale für die Prozessintegration aus. Der Schlüssel zur optimalen Nutzung der Optris Infrarotkamera ist eine korrekte Konfiguration. Dazu gehören detaillierte gerätespezifische Einstellungen wie Bildfrequenz, Anpassung des Messbereiches, Einstellungen für die externe Kommunikation sowie USB-/Ethernet-Konfigurationen. Darüber hinaus ermöglicht PIX Connect Firmware-Updates und das Herunterladen von Konfigurationsdateien über das Internet. PIX Connect Optris bietet mehrere verschiedene SDKs für unsere Xi- und PI-Wärmebildkameras an. Abhängig von der verwendeten Plattform, der Infrarotkamera, der Programmiersprache und der Hardwareplattform können unterschiedliche Software-Schnittstellen genutzt werden: SDK Die Optris IRmobile App ermöglicht es Anwendern, ein Optris Infrarot-Pyrometer oder eine Infrarotkamera mit einem Android-Smartphone oder -Tablet einzurichten und in Betrieb zu nehmen. Dieses Tool ist besonders hilfreich bei der Inbetriebnahme und Ausrichtung des Sichtfeldes der Infrarotkamera oder bei der Anpassung der Konfiguration. Die App analysiert den Live-Infrarotbildstrom der angeschlossenen Infrarotkamera mit automatischer Heiß- und Kaltpunkt-Erkennung. Für Pyrometer wird ein Temperatur-Zeit-Diagramm oder das Videosignal angezeigt. Diese App funktioniert auf den meisten Android-Geräten mit Version 5.0+ mit einem USB-Anschluss, der USB-OTG (On The Go) unterstützt. Google Play

• Mikroskopoptik MO2X
• Robuster Outdoor-Transportkoffer (IP67)
• Premium-Mikroskopständer mit Grob- und Feinantrieb
• Mikroskopständer
• Grundplatte mit ESD-Pad
• Softwarepaket optris PIX Connect
• Schnellstartanleitung